從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機理
趙忠禮 2006年8月
摘要: 各安全工作區(qū)的物理概念,超安全工作區(qū)工作的失效機理.討論Tsc和Vg、Vce(on)及Isc的關系.
關鍵詞: SOA、失效機理、Tsc
半導體功率器件失效的原因多種多樣.失效后進行失效分析也是十分困難和復雜的.其中失效的主要原因之一是超出安全工作區(qū)(Safe Operating Area)簡稱(SOA) 使用引起的.因此全面了解SOA,并在使用中將Ic和Vce控制在SOA之內是十分重要的.SOA分為正偏安全工作區(qū)(FBSOA)、反偏安全工作區(qū)(RBSOA)、開關安全工作區(qū)(SSOA)和短路安全工作區(qū)(SCSOA)……
文章附后:
1156505360.pdf
趙忠禮老師:從安全工作區(qū)探討IGBT的失效機理
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@oude
麻煩告訴我,要怎么樣才能傳成功?謝謝!
1157542677.pdf
已幫你上傳,還是無法打開,應該是網(wǎng)站問題.
我個人認為,不是很怎么樣的資料,如第6帖所說的,IGBT產品應用資料上介紹的詳細得多,只不過IGBT應用資料是英文罷了.
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我個人認為,不是很怎么樣的資料,如第6帖所說的,IGBT產品應用資料上介紹的詳細得多,只不過IGBT應用資料是英文罷了.
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