voltage dip test , transition load test, short circuit test.

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高低溫 震動 溫度循環(huán) 如果有條件還可以做下破壞性試驗，比方高溫極限試驗，一般溫升低的可靠性要高···

不好意思，是我說錯了。

是開關電源芯片，如TOP267,TNY279。

領導要求對不同型號或廠家的進行可靠性比對，后續(xù)可靠性好的。但這些都是應用性器件，不像橋堆，電阻這些，有比較統(tǒng)一的器件參數(shù)規(guī)范。

不知怎么比啊。