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測試OPP或短路損壞MOS原因

在制程中測試OPP或在做負載短路時MOS管出現(xiàn)損壞原因一定是MOS電流不夠嗎,請各位高人指教。
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zvszcs
LV.12
2
2013-11-13 10:33

應該是初級過流點沒有設置好

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2013-11-13 14:37
用示波器錄到波形,就知道了。
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2013-11-14 09:35
@zvszcs
應該是初級過流點沒有設置好

過流點沒設置好意思是這個點太高了嗎?但這個OPP點是有個標準范圍的。請指教。

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2013-11-14 09:38
@龍騰郭工
用示波器錄到波形,就知道了。
請問測試哪個部位的波形才可以判定不是MOS的問題呢?請郭工指教。
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2013-11-14 13:44
@超越幻想
請問測試哪個部位的波形才可以判定不是MOS的問題呢?請郭工指教。

最好捉取VDS,VGS,IDS信號波形分析,重點是電流波形。

你用什么型號的MOSFET,有沒有規(guī)格書,核對一下規(guī)格書中的 SOA,如果在SOA內(nèi),MOSFET失效,就要懷疑MOSFET品質(zhì),如果不在SOA內(nèi),就要檢查你的過流保護電路。  

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