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電容測試的困惑,求達(dá)人指點(diǎn)

裝置和目的:直流電源串聯(lián)微安表頭和一個(gè)限流電阻,測試電容的漏電流.
應(yīng)該:不考慮漏電流,應(yīng)該同樣電容量的電容,微安表的瞬時(shí)偏轉(zhuǎn)差不多.
實(shí)際:不同牌號的電容、或是同牌號不同年的產(chǎn)品,偏轉(zhuǎn)差異很大.如KEMET公司2004年的4u7電容,偏轉(zhuǎn)大約40uA,但2007年的偏轉(zhuǎn)只有13uA.
什么原因,請指點(diǎn).謝謝.
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war551
LV.2
2
2007-03-24 10:17
電子產(chǎn)品時(shí)間久了性能會下降的
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落木源
LV.8
3
2007-03-27 13:33
@war551
電子產(chǎn)品時(shí)間久了性能會下降的
電容量并沒有降低.用表測試的.
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t9922039
LV.2
4
2007-07-03 09:55
@落木源
電容量并沒有降低.用表測試的.
那應(yīng)該是生產(chǎn)工藝提高了的原因.
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