推薦致茂的LED測試設(shè)備是因為該設(shè)備用于中游芯片切割前后及晶粒擴張前后,針對晶粒的電性、光學(xué)及靜電放電(ESD)進行測試,并可結(jié)合點測機的人性化操作接口快速檢測LED。
針對下游的封裝階段,也可做靜電放電、熱阻(Thermal Resistance)及溫控(Tri-temperature)測試,以便仿真溫度、濕度的環(huán)境變化,量測LED模塊的電性光學(xué)特性。
另外,在LED模塊的測試需求上則針對LED Flash Light 、LED Light Bar及OLED進行壽命試驗。并提供各種客制化的LED電性、光學(xué)測試設(shè)備,以達到多樣化的測試應(yīng)用。
Chroma提供LED driver (LED電源)的整體測試方案, 包括輸入端的可編程交流源或直流源,精準的數(shù)字功率表,還有特殊為LED driver輸出拉載設(shè)計的專用電子負載。Chroma也發(fā)揮整合能力提供自動測試系統(tǒng)的測試方案,不僅適用研發(fā)或品保單位對產(chǎn)品的詳細驗證,也可用于生產(chǎn)線作一次測試多顆的大量生產(chǎn)需求。