電感匝數(shù)與氣隙的討論
我和我的朋友都是開發(fā)節(jié)能的,在其它方面有較好的共識.但在電感方面,他喜歡增加匝數(shù)和增大氣隙來達到要求,而我則減少匝數(shù)和減小氣隙.所以我的EB的工作頻率總是大于朋友的.經(jīng)多次實驗測試,二個三極管的溫升不分上下,但電感的溫度我的比朋友低10度左右.朋友不服,故與大家一起討論,各位有何高見!
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@窮則思變
如果你是設(shè)計小功率的電感,確實有的情況下不需要氣息.因為你的圈數(shù)少,固然你的溫度會比較低,但是我贊同你朋友的做法.當(dāng)你做較大功率的時候,可能會遇到電感的飽和問題,這時候是必須加大氣息或者增加圈數(shù)的.如果你是用三極管,頻率最好不好超過五十千.你們又沒有測試過高溫下的情況呢,你的電感會飽和嗎?
在65度的環(huán)境里連續(xù)測試一個月后一切正常.仔細觀察,發(fā)現(xiàn)朋友的電感線圈有變色的痕跡.這讓我想起為何有些EB在使用一段時間后,電感線圈容易匝間短路而損壞,尤其是為節(jié)約成本使用小磁芯時.在大多情況下,線圈的溫度總會高于磁芯的溫度.也許平衡線圈與磁芯的溫度更有利于產(chǎn)品的穩(wěn)定(這點需要時間來證明).我知道使用三極管頻率不能太高,但這次我將頻率調(diào)到六十千赫以上,到現(xiàn)在尚未發(fā)現(xiàn)問題.只是磁環(huán)的溫度有點偏高.
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我是做磁性器件的,你用的方法在我看來是有待論證的!但也不能說不好.原因如下:除了考慮L值以外,飽和特性是主要因素,其次是損耗.前者這方面,你朋友的電感肯定比你好,因為他的氣隙大,儲能好,后者的因素,是你的好,因為你的損耗小!但這里面仍有有一點要說明,電感器件的損耗大小,不要說匝數(shù)越小越好,因為整個器件的損耗是銅阻和磁損耗的總和,匝數(shù)小銅阻小,但磁損耗會相應(yīng)較大,相反匝數(shù)多銅阻大,但磁損耗相對較小,最佳的辦法是找到最優(yōu)的一個點,此時銅阻和磁損耗的總和是在最小值附近,可以用做二條相交的曲線圖(匝數(shù)VS損耗)二條曲線的交點處就是最小的總損耗對應(yīng)點!
從你說的情況來分析,你朋友是過分強調(diào)飽和了,而你的做法如果確定飽和特性是在允許范圍內(nèi)的話,是可行的!沒有必要去加大匝數(shù),這會增加成本的!
從你說的情況來分析,你朋友是過分強調(diào)飽和了,而你的做法如果確定飽和特性是在允許范圍內(nèi)的話,是可行的!沒有必要去加大匝數(shù),這會增加成本的!
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@sars
我是做磁性器件的,你用的方法在我看來是有待論證的!但也不能說不好.原因如下:除了考慮L值以外,飽和特性是主要因素,其次是損耗.前者這方面,你朋友的電感肯定比你好,因為他的氣隙大,儲能好,后者的因素,是你的好,因為你的損耗小!但這里面仍有有一點要說明,電感器件的損耗大小,不要說匝數(shù)越小越好,因為整個器件的損耗是銅阻和磁損耗的總和,匝數(shù)小銅阻小,但磁損耗會相應(yīng)較大,相反匝數(shù)多銅阻大,但磁損耗相對較小,最佳的辦法是找到最優(yōu)的一個點,此時銅阻和磁損耗的總和是在最小值附近,可以用做二條相交的曲線圖(匝數(shù)VS損耗)二條曲線的交點處就是最小的總損耗對應(yīng)點!從你說的情況來分析,你朋友是過分強調(diào)飽和了,而你的做法如果確定飽和特性是在允許范圍內(nèi)的話,是可行的!沒有必要去加大匝數(shù),這會增加成本的!
同意樓上的觀點.只要實際使用符合要求,我贊成哪種成本低,哪種工藝簡單,就用哪種.
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@sars
我是做磁性器件的,你用的方法在我看來是有待論證的!但也不能說不好.原因如下:除了考慮L值以外,飽和特性是主要因素,其次是損耗.前者這方面,你朋友的電感肯定比你好,因為他的氣隙大,儲能好,后者的因素,是你的好,因為你的損耗小!但這里面仍有有一點要說明,電感器件的損耗大小,不要說匝數(shù)越小越好,因為整個器件的損耗是銅阻和磁損耗的總和,匝數(shù)小銅阻小,但磁損耗會相應(yīng)較大,相反匝數(shù)多銅阻大,但磁損耗相對較小,最佳的辦法是找到最優(yōu)的一個點,此時銅阻和磁損耗的總和是在最小值附近,可以用做二條相交的曲線圖(匝數(shù)VS損耗)二條曲線的交點處就是最小的總損耗對應(yīng)點!從你說的情況來分析,你朋友是過分強調(diào)飽和了,而你的做法如果確定飽和特性是在允許范圍內(nèi)的話,是可行的!沒有必要去加大匝數(shù),這會增加成本的!
是啊!磁損耗與銅損耗是相對的啊 ,找到點就可以了,LC諧振也是一樣啊
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