上圖是用大電容來模擬電池的電池保護(hù)板過充和過放的測試電路,開關(guān)打到R2的時(shí)候是給電容充電,相當(dāng)于給電池充電,此時(shí)電容的電壓會升高,到升高到保護(hù)電壓是,電源就不再給電容充電了,此時(shí)的電壓是保護(hù)板的過充保護(hù)電壓,當(dāng)開關(guān)打到R1的時(shí)候此時(shí)給電容放電,相當(dāng)于給電池放電,此時(shí)電容的電壓會降低,當(dāng)電壓降到保護(hù)板的過放電壓的時(shí)候電容不再放電,電壓不再下降,此時(shí)的電壓是保護(hù)板的過放保護(hù)電壓.但是一般電池保護(hù)IC有個(gè)保護(hù)延時(shí)的時(shí)間(例如精工的8242的過充保護(hù)延遲時(shí)間是1S左右,過放保護(hù)延遲時(shí)間是144MS),從檢測到電容的電壓達(dá)到保護(hù)電壓到IC發(fā)出保護(hù)動作有1S的時(shí)間,在這1S的時(shí)間,電源可以繼續(xù)給電容充電,導(dǎo)致電容的電壓高于過放保護(hù)電壓,給電容充電的電流越大,這個(gè)電壓越高,此時(shí)要加大R2的阻值,降低充電的電流,讓電容的電壓上升比較慢,讓電容電壓更接近于保護(hù)電壓,但是有個(gè)問題加大電阻,降低電容電壓的上升速度(提高測試精度)就會導(dǎo)致測試的時(shí)間變長,這個(gè)在生產(chǎn)測試是一個(gè)很大的矛盾.(過放也是同樣的道理),不知道哪位高手有沒有更好的測試方法,即能保證測試精度也能保證測試速度.