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MOSFET動態(tài)參數(shù)理解及測試項目方法

Ciss:輸入電容。Ciss=Cgd+Cgs

Coss:輸出電容。Coss=Cds+Cgd

Crss:反向傳輸電容。Crss=Cgd

10

Test Condition:Vgs=0,VDS=10V、15V、25V,f=1MHz

MOSFET是電壓型驅(qū)動器件,驅(qū)動的過程就是柵極電壓的建立過程,這是通過對柵源及柵漏之間的電容充電來實現(xiàn)的。

Qg:柵極總充電電量。

Qgs:柵源充電電量。

Qgd:柵源充電電量。

Test Condition:Vdd=80%RatedVds,ID=RatedID,Vgs=4.5V或10V,Rg=10Ω

11

開關(guān)時間(Switching Time)

Td(on):導(dǎo)通延遲時間

Tr:上升時間

Td(off):關(guān)斷延遲時間

Tf:下降時間

Test Condition:Vdd=1/2RatedVds,ID=1/2RatedID,Vgs=4.5V或10V,Rg=4.7Ω

12

13

Vsd:寄生二極管正向?qū)妷?

14

Trr:二極管反向恢復(fù)時間

二極管可視為一種電容,積累的電荷Qrr完全放掉需要時間為Trr。

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