分外灌式和內(nèi)激式.

具體如何操作呢,會(huì)不會(huì)燒掉產(chǎn)品中的元器件,比如穩(wěn)壓二極管...等等.

一.外灌式
   如+5V/0~5A POWER,7.0V Max O.V.P.
   在測(cè)試時(shí)一般將+5V帶輕載(如0.2A),在輸出端用DC SOURCE外灌一個(gè)
   7.0V/0.23A 信號(hào)源後,Trigger o.v.p point ,the power came to
   latch or auto-recover.
   此方式多用於PC Power中(多輸出產(chǎn)品).
二.內(nèi)激式
   如+5V/0~5A POWER,7.0V Max O.V.P.
   在測(cè)試時(shí)一般將TL431 對(duì)GND電阻直接short.破壞其回授.使用輸出電
   壓瞬間升高.Trigger o.v.p point ,the power came to latch or
   auto-recover.
   此方式多用於adapter中(一輸出產(chǎn)品).
    
   燒不燒component(如zener diode....)主要看你Control 所選ic ,如
   你設(shè)計(jì) o.v.p latched.對(duì)於SG6841你可以直接拉ic之pin5.若你設(shè)計(jì)
   o.v.p auto-recover .對(duì)於SG6841你可以直接拉ic之pin2.在o.v.p線
   路中zener一般只作為Trigger piont.
   一般不能直接並接在output兩端.這種做法是具有破壞性.有的客戶或
   在安規(guī)申報(bào)中(模擬短路photocouple 次數(shù))不接受這種方式.

  PS:不過RCC/TOP 線路中很難control.

  以上只是本人一點(diǎn)膚淺看法,供各為參考!

小弟求一種簡單的輸出過壓保護(hù)電路,還望賜教.

我看到我們這邊的測(cè)試team
他們測(cè)試內(nèi)激式的ovp的時(shí)候,做法是短路光耦的1 2腳
我總感覺這樣怪怪的

這樣做輸出端的電壓也會(huì)上升然后latch

但是這樣似乎像做了短路保護(hù)啊

非也,短路光耦的1、2腳,是相當(dāng)于反饋電流不流經(jīng)光耦了,直接通過短路線到TL431了,若芯片沒有檢測(cè)到反饋信號(hào),就認(rèn)為輸出沒有了電壓,會(huì)通過調(diào)整占空比等手段來使輸出電壓升高,但實(shí)際在短光耦時(shí)輸出電壓時(shí)正常的,從而會(huì)使輸出電壓升高至過壓保護(hù)點(diǎn).
不知說的明不明白,請(qǐng)指教.

是啊
但是短了光耦之后,光耦連接FB的那個(gè)腳的電位
會(huì)迅速的上升

我們這邊都是用onsemi的方案做的,onsemi的在FB到達(dá)4.2V就會(huì)latch掉

那這個(gè)算是過壓保護(hù)么?

收藏!

原邊反饋的電源，如何測(cè)試OVP呢？如PN8370之類。沒有431+817，穩(wěn)壓管之類，外灌DC分不清是灌入還是輸出。而且一般測(cè)試值偏低。是不是需要通過迷惑芯片F(xiàn)B引腳測(cè)試呢？具體如何做你？謝謝。