如下圖，現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)fuse，PFC的fet，以及dc/dc的fet以及門電阻，以及ocp的檢測(cè)電阻損壞了，有可能是哪里的問題？IC是否損壞現(xiàn)在暫時(shí)還不明確。我之前是推測(cè)門電阻R21損壞，導(dǎo)致Q2燒壞大電流導(dǎo)致fuse然后檢測(cè)電阻以及IC損壞，從而導(dǎo)致PFC的fet損壞。但是做試驗(yàn)將R21open掉之后，會(huì)無輸出，搞不懂原理。