如下圖,現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)fuse,PFC的fet,以及dc/dc的fet以及門電阻,以及ocp的檢測(cè)電阻損壞了,有可能是哪里的問題?IC是否損壞現(xiàn)在暫時(shí)還不明確。我之前是推測(cè)門電阻R21損壞,導(dǎo)致Q2燒壞大電流導(dǎo)致fuse然后檢測(cè)電阻以及IC損壞,從而導(dǎo)致PFC的fet損壞。但是做試驗(yàn)將R21open掉之后,會(huì)無輸出,搞不懂原理。
如下圖,現(xiàn)在發(fā)現(xiàn)fuse,PFC的fet,以及dc/dc的fet以及門電阻,以及ocp的檢測(cè)電阻損壞了,有可能是哪里的問題?IC是否損壞現(xiàn)在暫時(shí)還不明確。我之前是推測(cè)門電阻R21損壞,導(dǎo)致Q2燒壞大電流導(dǎo)致fuse然后檢測(cè)電阻以及IC損壞,從而導(dǎo)致PFC的fet損壞。但是做試驗(yàn)將R21open掉之后,會(huì)無輸出,搞不懂原理。