本人做開關(guān)電源差不多5年了,居然碰到了一個(gè)很怪很怪的問題!!
就是使用接觸不良的插座,然后給adapter上電,讓adapter一直處于那種接觸和非接觸之間,adapter的插腳一直和插座的接觸片拉弧,時(shí)間1-10鐘不等,(還就有那么一個(gè)老插座)adapter就炸機(jī)!!(無論帶載還是不帶載)輸入AC波形都變了!!
插拔測試和帶載老化測試都正常!!
為什么!!!?
開關(guān)電源的新現(xiàn)象,請高手解決
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@mutouren
炸是要炸的,你做開關(guān)機(jī)測試恐怕也過不了.接觸不好時(shí)的實(shí)際工況比開關(guān)機(jī)更惡劣的,輸入共模回路做好點(diǎn)會改善點(diǎn).否則就要?jiǎng)雍芏嗟胤搅?呵呵,有點(diǎn)麻煩.把問題叫原廠AE去搞定嘛.
是的,確實(shí)與IC的抗干擾能力有關(guān),當(dāng)然也與吸收緩沖回路和EMI元件有關(guān).我的沒有共模,那么便宜的東西,只能用pi型了.但改大電解和更改吸收回路實(shí)驗(yàn)了12pcs(插座沒有那么多壞的)只有1pcs在炒菜22分鐘炸了,其他均做了一個(gè)小時(shí)都沒有問題!!不知還有沒有其他的方法!!
各位高手!!
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@mutouren
炸是要炸的,你做開關(guān)機(jī)測試恐怕也過不了.接觸不好時(shí)的實(shí)際工況比開關(guān)機(jī)更惡劣的,輸入共?;芈纷龊命c(diǎn)會改善點(diǎn).否則就要?jiǎng)雍芏嗟胤搅?呵呵,有點(diǎn)麻煩.把問題叫原廠AE去搞定嘛.
開關(guān)機(jī)和拔插測試都沒有問題.主要是一直拉弧打火,電源帶載工作,很是功率時(shí)高時(shí)低.IC內(nèi)的mosfet在這種情況下發(fā)熱而炸機(jī).(沒有散熱片的).當(dāng)然與變壓器的漏感也可能有關(guān)系,但這批不能改變壓器了!!
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@wricken
都因成本惹的禍!只有把保護(hù)電路設(shè)計(jì)更全面!
這個(gè)問題很簡單啊,我們做測試時(shí),合上和關(guān)斷是非連續(xù)性的,而老化的插板接觸不好是一種連續(xù)性的,我們的適配器電源本身在工作時(shí)是作為一種電感形式存在,由于斷開和接上的時(shí)間非常的短,拉弧產(chǎn)火花說明擊穿了空氣的絕緣,當(dāng)MOS合上時(shí),電感存能,這時(shí)你的輸入端出現(xiàn)這種情況,在ON內(nèi),MOS并沒有關(guān)斷,一斷一合,這時(shí)的電壓會是多少,大家都算下,相當(dāng)于產(chǎn)生高壓了,如果在同個(gè)周期內(nèi)多幾次,MOS就會炸了,所以波形要么會很高,要么會很低,當(dāng)然是變形的啦
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@brinex
這個(gè)問題很簡單啊,我們做測試時(shí),合上和關(guān)斷是非連續(xù)性的,而老化的插板接觸不好是一種連續(xù)性的,我們的適配器電源本身在工作時(shí)是作為一種電感形式存在,由于斷開和接上的時(shí)間非常的短,拉弧產(chǎn)火花說明擊穿了空氣的絕緣,當(dāng)MOS合上時(shí),電感存能,這時(shí)你的輸入端出現(xiàn)這種情況,在ON內(nèi),MOS并沒有關(guān)斷,一斷一合,這時(shí)的電壓會是多少,大家都算下,相當(dāng)于產(chǎn)生高壓了,如果在同個(gè)周期內(nèi)多幾次,MOS就會炸了,所以波形要么會很高,要么會很低,當(dāng)然是變形的啦
不好意思,很久沒有上電源網(wǎng)了。沒想到3年前的帖子,還有人跟。
其實(shí)原因在三年前就找到了,確實(shí)是X電容與開關(guān)IC一起造成的,因?yàn)镮C無法改變,所以改小了X電容的放電電阻由2M改為900K,就基本好了。增加了X電容上的放電速度。
這只是特定的IC造成的。
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