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請(qǐng)教 電解電容頂部凸起有哪些原因造成?

電解電容來(lái)料頂部凸起,容值沒(méi)有問(wèn)題,不知道能不能用,請(qǐng)教是什么原因造成的呢?
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2005-06-08 15:51
可能是耐壓不夠.
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linny
LV.1
3
2005-06-08 16:56
除耐壓不夠之外,環(huán)境溫度有沒(méi)超出標(biāo)示值,極性有沒(méi)接反
0
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led-sz
LV.5
4
2005-06-08 20:01
@linny
除耐壓不夠之外,環(huán)境溫度有沒(méi)超出標(biāo)示值,極性有沒(méi)接反
可以考慮是否材質(zhì)不行.還是電壓,或溫度超標(biāo)
0
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jakces
LV.2
5
2005-07-06 13:07
我曾經(jīng)關(guān)于這個(gè)問(wèn)題有和電容制造商解剖過(guò),
最基本原因是:電容內(nèi)部產(chǎn)生二硫化氫氣體所造成.
有可能是電容受到過(guò)高的電壓,極性反向,或元件周圍溫度過(guò)高等.
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jurda
LV.6
6
2005-07-07 00:07
@jakces
我曾經(jīng)關(guān)于這個(gè)問(wèn)題有和電容制造商解剖過(guò),最基本原因是:電容內(nèi)部產(chǎn)生二硫化氫氣體所造成.有可能是電容受到過(guò)高的電壓,極性反向,或元件周圍溫度過(guò)高等.
電壓超過(guò)額定,

長(zhǎng)期工作在高溫,使得電容壽命降低.

紋波過(guò)大,使得電容損耗過(guò)大.
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hua369920
LV.4
7
2005-07-07 16:31
@jurda
電壓超過(guò)額定,長(zhǎng)期工作在高溫,使得電容壽命降低.紋波過(guò)大,使得電容損耗過(guò)大.
請(qǐng)問(wèn)產(chǎn)生電解電容的極性反向的原因是什么呀
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2005-07-07 22:59
突起的原因很多,電容本身的問(wèn)題就是含有水分
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jurda
LV.6
9
2005-07-08 00:37
@hua369920
請(qǐng)問(wèn)產(chǎn)生電解電容的極性反向的原因是什么呀
不太明白你的意思哦
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xingyou
LV.4
10
2005-07-08 09:33
@兄弟標(biāo)準(zhǔn)
突起的原因很多,電容本身的問(wèn)題就是含有水分
可能是耐壓太低
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xiaodong
LV.9
11
2005-07-08 10:58
造成此原因有很多,過(guò)壓過(guò)熱,老化,本身的用料都會(huì)造成.但這些狀況的出現(xiàn)一般是在使用了N年后才會(huì)產(chǎn)生.你的情況是在來(lái)料就有這個(gè)問(wèn)題,那只能是生產(chǎn)商的問(wèn)題了.看看總數(shù)是多少,產(chǎn)生不良有多少.請(qǐng)生產(chǎn)商來(lái)分析是因?yàn)椴馁|(zhì)不行還是生產(chǎn)過(guò)程中作為不良造成的.
個(gè)人認(rèn)為,在來(lái)料時(shí)有這個(gè)情況(量少可以理解)為了質(zhì)量起見一定得重新評(píng)估.
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johan2000
LV.1
12
2005-07-16 09:11
@xiaodong
造成此原因有很多,過(guò)壓過(guò)熱,老化,本身的用料都會(huì)造成.但這些狀況的出現(xiàn)一般是在使用了N年后才會(huì)產(chǎn)生.你的情況是在來(lái)料就有這個(gè)問(wèn)題,那只能是生產(chǎn)商的問(wèn)題了.看看總數(shù)是多少,產(chǎn)生不良有多少.請(qǐng)生產(chǎn)商來(lái)分析是因?yàn)椴馁|(zhì)不行還是生產(chǎn)過(guò)程中作為不良造成的.個(gè)人認(rèn)為,在來(lái)料時(shí)有這個(gè)情況(量少可以理解)為了質(zhì)量起見一定得重新評(píng)估.
電容來(lái)料凸起,容值應(yīng)當(dāng)變化不大,但絕對(duì)是不良品,不可以使用.如果不良比例大的話,建議取消其供應(yīng)商資格.
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hua369920
LV.4
13
2006-06-29 15:00
@johan2000
電容來(lái)料凸起,容值應(yīng)當(dāng)變化不大,但絕對(duì)是不良品,不可以使用.如果不良比例大的話,建議取消其供應(yīng)商資格.
電解電容會(huì)不會(huì)出現(xiàn)電性不穩(wěn)定的現(xiàn)象﹐我司是生產(chǎn)變壓器的﹐有一次我司產(chǎn)品出現(xiàn)電壓不穩(wěn)定﹐測(cè)試時(shí)﹐有時(shí)電壓偏高﹐有時(shí)電壓偏低﹐最后﹐我分析時(shí)﹐我用手動(dòng)一下電解電容電壓就好了﹐不動(dòng)了﹐一會(huì)兒有不行呀﹐請(qǐng)那位高手幫忙分析一下.
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劍心
LV.8
14
2006-06-29 17:35
還沒(méi)用就鼓了?鼓了你還要?
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hua369920
LV.4
15
2006-07-01 09:42
@劍心
還沒(méi)用就鼓了?鼓了你還要?
對(duì)了二極管的RMS是什么意思﹗﹗1
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李紹波
LV.9
16
2006-07-01 11:07
@劍心
還沒(méi)用就鼓了?鼓了你還要?
來(lái)料這樣肯定是不能用了,
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charleschen
LV.1
17
2006-07-02 12:00
最基本原因是:電容溫度過(guò)高.溫度過(guò)高會(huì)產(chǎn)生二硫化氫氣體膨脹造成的.
造成溫度過(guò)高的原因可能有:1.電壓過(guò)高,造成過(guò)大的漏電流,從成發(fā)熱.2.電壓波動(dòng)太大,也會(huì)產(chǎn)生過(guò)大的漏電流.3.外界環(huán)境溫度過(guò)高,直接導(dǎo)致電容內(nèi)氣體膨脹
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robbie986
LV.4
18
2006-07-07 18:56
@charleschen
最基本原因是:電容溫度過(guò)高.溫度過(guò)高會(huì)產(chǎn)生二硫化氫氣體膨脹造成的.造成溫度過(guò)高的原因可能有:1.電壓過(guò)高,造成過(guò)大的漏電流,從成發(fā)熱.2.電壓波動(dòng)太大,也會(huì)產(chǎn)生過(guò)大的漏電流.3.外界環(huán)境溫度過(guò)高,直接導(dǎo)致電容內(nèi)氣體膨脹
使用前鼓,有多種原因,當(dāng)然肯定是供方的原因:
1.封裝的部件尺寸設(shè)計(jì)配合不科學(xué),是機(jī)械的原因,對(duì)使用沒(méi)有致命影響,此種情況可以用;
2.內(nèi)部鋁箔的原因,電壓過(guò)低或鋁箔太爛,電容器老化時(shí)就產(chǎn)生很多氣體,內(nèi)壓增加,此種情況不能使用;
3.電解液有問(wèn)題,水分多,老化時(shí)內(nèi)壓升高,此種情況也不能用;
具體要與供應(yīng)商聯(lián)系.

如果使用后才鼓起,原因就很多,有電容器本身問(wèn)題,也有使用方的原因:
電壓、紋波電流、溫度是主要因素.
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hua369920
LV.4
19
2006-07-10 14:34
@robbie986
使用前鼓,有多種原因,當(dāng)然肯定是供方的原因:1.封裝的部件尺寸設(shè)計(jì)配合不科學(xué),是機(jī)械的原因,對(duì)使用沒(méi)有致命影響,此種情況可以用;2.內(nèi)部鋁箔的原因,電壓過(guò)低或鋁箔太爛,電容器老化時(shí)就產(chǎn)生很多氣體,內(nèi)壓增加,此種情況不能使用;3.電解液有問(wèn)題,水分多,老化時(shí)內(nèi)壓升高,此種情況也不能用;具體要與供應(yīng)商聯(lián)系.如果使用后才鼓起,原因就很多,有電容器本身問(wèn)題,也有使用方的原因:電壓、紋波電流、溫度是主要因素.
謝謝﹐各位大師們的幫我分析此問(wèn)題﹗﹗﹗﹗
電解電容在進(jìn)過(guò)壽命測(cè)試后﹐現(xiàn)在我這兒就有兩種爭(zhēng)論.
1﹐電解電容在進(jìn)行壽命測(cè)試﹐高濕﹐冷凍測(cè)試后﹐電容的容一定要求在實(shí)驗(yàn)前的容量的2倍以內(nèi)﹐DF值上升﹐泄電流下降.
2﹐電容的容量一定比實(shí)驗(yàn)前的容量要低﹐不能出比測(cè)試前高的現(xiàn)象﹐DF值上升﹐泄電流下降.
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robbie986
LV.4
20
2006-07-10 15:10
@hua369920
謝謝﹐各位大師們的幫我分析此問(wèn)題﹗﹗﹗﹗電解電容在進(jìn)過(guò)壽命測(cè)試后﹐現(xiàn)在我這兒就有兩種爭(zhēng)論.1﹐電解電容在進(jìn)行壽命測(cè)試﹐高濕﹐冷凍測(cè)試后﹐電容的容一定要求在實(shí)驗(yàn)前的容量的2倍以內(nèi)﹐DF值上升﹐泄電流下降.2﹐電容的容量一定比實(shí)驗(yàn)前的容量要低﹐不能出比測(cè)試前高的現(xiàn)象﹐DF值上升﹐泄電流下降.
1.壽命試驗(yàn),容量大部分情況是下降,DF上升,漏電流下降,也有特殊情況會(huì)造成容量上升,DF上升,漏電流也上升;高濕,冷凍試驗(yàn)過(guò)程中如果不加電,一般是容量下降,DF上升,漏電流上升.容量的變化值通常規(guī)定在實(shí)驗(yàn)前容量的+/-20%.
2.絕大多數(shù)情況下,實(shí)驗(yàn)后的容量是下降的,但也有時(shí)會(huì)出現(xiàn)容量上升,一般規(guī)定變化+/-20%,DF是上升的,如果實(shí)驗(yàn)中電容器加電工作,漏電流會(huì)下降,否則漏電流上升.
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hua369920
LV.4
21
2006-07-11 12:26
@robbie986
1.壽命試驗(yàn),容量大部分情況是下降,DF上升,漏電流下降,也有特殊情況會(huì)造成容量上升,DF上升,漏電流也上升;高濕,冷凍試驗(yàn)過(guò)程中如果不加電,一般是容量下降,DF上升,漏電流上升.容量的變化值通常規(guī)定在實(shí)驗(yàn)前容量的+/-20%.2.絕大多數(shù)情況下,實(shí)驗(yàn)后的容量是下降的,但也有時(shí)會(huì)出現(xiàn)容量上升,一般規(guī)定變化+/-20%,DF是上升的,如果實(shí)驗(yàn)中電容器加電工作,漏電流會(huì)下降,否則漏電流上升.
對(duì)了﹐你所說(shuō)的這些當(dāng)中﹐對(duì)于冷凍試驗(yàn)時(shí)﹐我們是不去加電的﹐放在-40℃的環(huán)境中250小時(shí)的測(cè)試﹐那你所說(shuō)的
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