請教 電解電容頂部凸起有哪些原因造成?
電解電容來料頂部凸起,容值沒有問題,不知道能不能用,請教是什么原因造成的呢?
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@charleschen
最基本原因是:電容溫度過高.溫度過高會產(chǎn)生二硫化氫氣體膨脹造成的.造成溫度過高的原因可能有:1.電壓過高,造成過大的漏電流,從成發(fā)熱.2.電壓波動太大,也會產(chǎn)生過大的漏電流.3.外界環(huán)境溫度過高,直接導致電容內(nèi)氣體膨脹
使用前鼓,有多種原因,當然肯定是供方的原因:
1.封裝的部件尺寸設計配合不科學,是機械的原因,對使用沒有致命影響,此種情況可以用;
2.內(nèi)部鋁箔的原因,電壓過低或鋁箔太爛,電容器老化時就產(chǎn)生很多氣體,內(nèi)壓增加,此種情況不能使用;
3.電解液有問題,水分多,老化時內(nèi)壓升高,此種情況也不能用;
具體要與供應商聯(lián)系.
如果使用后才鼓起,原因就很多,有電容器本身問題,也有使用方的原因:
電壓、紋波電流、溫度是主要因素.
1.封裝的部件尺寸設計配合不科學,是機械的原因,對使用沒有致命影響,此種情況可以用;
2.內(nèi)部鋁箔的原因,電壓過低或鋁箔太爛,電容器老化時就產(chǎn)生很多氣體,內(nèi)壓增加,此種情況不能使用;
3.電解液有問題,水分多,老化時內(nèi)壓升高,此種情況也不能用;
具體要與供應商聯(lián)系.
如果使用后才鼓起,原因就很多,有電容器本身問題,也有使用方的原因:
電壓、紋波電流、溫度是主要因素.
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@robbie986
使用前鼓,有多種原因,當然肯定是供方的原因:1.封裝的部件尺寸設計配合不科學,是機械的原因,對使用沒有致命影響,此種情況可以用;2.內(nèi)部鋁箔的原因,電壓過低或鋁箔太爛,電容器老化時就產(chǎn)生很多氣體,內(nèi)壓增加,此種情況不能使用;3.電解液有問題,水分多,老化時內(nèi)壓升高,此種情況也不能用;具體要與供應商聯(lián)系.如果使用后才鼓起,原因就很多,有電容器本身問題,也有使用方的原因:電壓、紋波電流、溫度是主要因素.
謝謝﹐各位大師們的幫我分析此問題﹗﹗﹗﹗
電解電容在進過壽命測試后﹐現(xiàn)在我這兒就有兩種爭論.
1﹐電解電容在進行壽命測試﹐高濕﹐冷凍測試后﹐電容的容一定要求在實驗前的容量的2倍以內(nèi)﹐DF值上升﹐泄電流下降.
2﹐電容的容量一定比實驗前的容量要低﹐不能出比測試前高的現(xiàn)象﹐DF值上升﹐泄電流下降.
電解電容在進過壽命測試后﹐現(xiàn)在我這兒就有兩種爭論.
1﹐電解電容在進行壽命測試﹐高濕﹐冷凍測試后﹐電容的容一定要求在實驗前的容量的2倍以內(nèi)﹐DF值上升﹐泄電流下降.
2﹐電容的容量一定比實驗前的容量要低﹐不能出比測試前高的現(xiàn)象﹐DF值上升﹐泄電流下降.
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@hua369920
謝謝﹐各位大師們的幫我分析此問題﹗﹗﹗﹗電解電容在進過壽命測試后﹐現(xiàn)在我這兒就有兩種爭論.1﹐電解電容在進行壽命測試﹐高濕﹐冷凍測試后﹐電容的容一定要求在實驗前的容量的2倍以內(nèi)﹐DF值上升﹐泄電流下降.2﹐電容的容量一定比實驗前的容量要低﹐不能出比測試前高的現(xiàn)象﹐DF值上升﹐泄電流下降.
1.壽命試驗,容量大部分情況是下降,DF上升,漏電流下降,也有特殊情況會造成容量上升,DF上升,漏電流也上升;高濕,冷凍試驗過程中如果不加電,一般是容量下降,DF上升,漏電流上升.容量的變化值通常規(guī)定在實驗前容量的+/-20%.
2.絕大多數(shù)情況下,實驗后的容量是下降的,但也有時會出現(xiàn)容量上升,一般規(guī)定變化+/-20%,DF是上升的,如果實驗中電容器加電工作,漏電流會下降,否則漏電流上升.
2.絕大多數(shù)情況下,實驗后的容量是下降的,但也有時會出現(xiàn)容量上升,一般規(guī)定變化+/-20%,DF是上升的,如果實驗中電容器加電工作,漏電流會下降,否則漏電流上升.
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@robbie986
1.壽命試驗,容量大部分情況是下降,DF上升,漏電流下降,也有特殊情況會造成容量上升,DF上升,漏電流也上升;高濕,冷凍試驗過程中如果不加電,一般是容量下降,DF上升,漏電流上升.容量的變化值通常規(guī)定在實驗前容量的+/-20%.2.絕大多數(shù)情況下,實驗后的容量是下降的,但也有時會出現(xiàn)容量上升,一般規(guī)定變化+/-20%,DF是上升的,如果實驗中電容器加電工作,漏電流會下降,否則漏電流上升.
對了﹐你所說的這些當中﹐對于冷凍試驗時﹐我們是不去加電的﹐放在-40℃的環(huán)境中250小時的測試﹐那你所說的
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