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電源OTA求助

Test Summary 測試數(shù)據(jù)

移動電源做OTA測試,EIS測試在1800,1900,WCDMA 2段不合格,差10個DB左右,請高手幫我分析,謝謝!

電源圖片 

全部回復(fù)(9)
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xwqpower
LV.5
2
2011-07-15 19:55
沒人頂,自已頂一下!
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mko145
LV.8
3
2011-07-16 00:43
@xwqpower
沒人頂,自已頂一下!
現(xiàn)在不是不用測 OTA了嗎? 
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zvszcs
LV.12
4
2011-07-16 10:34
@mko145
現(xiàn)在不是不用測OTA了嗎? 
沒涉及這塊
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xwqpower
LV.5
5
2011-07-19 08:17
@zvszcs
沒涉及這塊
有沒有高手呀?可支付一定費用!
0
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mko145
LV.8
6
2011-07-20 20:56

請注意以下幾點:

    - 整機的結(jié)構(gòu)出現(xiàn)問題:含有金屬部分的器件過于靠近iPhone,比如喇叭、鐵網(wǎng),PCB版的位置,散熱片的大小等等。如果這些器件對于測試結(jié)果影響很大,應(yīng)當去除或者遠離iPhone。

    - PCB的接地的大?。旱氐拇笮τ?/span>測試指標的影響是顯著的,一般來說,地越大對于TRP/EIS的值影響也就越大。


    - 連接線的長度及擺放位置的影響:iPhone與被測物相連后,很容易把連接線當成一根天線從而導(dǎo)致測試結(jié)果變差,所以要求盡量避免連接線的長度處于發(fā)射信號的波長段;連接線的擺放位置盡量的遠離iPhone,根據(jù)我們的測試經(jīng)驗有可能一個小的折痕對于測試結(jié)果都將有很大的影響。

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zvszcs
LV.12
7
2011-07-20 21:15
@mko145
請注意以下幾點:   - 整機的結(jié)構(gòu)出現(xiàn)問題:含有金屬部分的器件過于靠近iPhone,比如喇叭、鐵網(wǎng),PCB版的位置,散熱片的大小等等。如果這些器件對于測試結(jié)果影響很大,應(yīng)當去除或者遠離iPhone。    - PCB的接地的大?。旱氐拇笮τ跍y試指標的影響是顯著的,一般來說,地越大對于TRP/EIS的值影響也就越大。    - 連接線的長度及擺放位置的影響:iPhone與被測物相連后,很容易把連接線當成一根天線從而導(dǎo)致測試結(jié)果變差,所以要求盡量避免連接線的長度處于發(fā)射信號的波長段;連接線的擺放位置盡量的遠離iPhone,根據(jù)我們的測試經(jīng)驗有可能一個小的折痕對于測試結(jié)果都將有很大的影響。
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xwqpower
LV.5
8
2011-07-21 17:29
@mko145
請注意以下幾點:   - 整機的結(jié)構(gòu)出現(xiàn)問題:含有金屬部分的器件過于靠近iPhone,比如喇叭、鐵網(wǎng),PCB版的位置,散熱片的大小等等。如果這些器件對于測試結(jié)果影響很大,應(yīng)當去除或者遠離iPhone。    - PCB的接地的大?。旱氐拇笮τ跍y試指標的影響是顯著的,一般來說,地越大對于TRP/EIS的值影響也就越大。    - 連接線的長度及擺放位置的影響:iPhone與被測物相連后,很容易把連接線當成一根天線從而導(dǎo)致測試結(jié)果變差,所以要求盡量避免連接線的長度處于發(fā)射信號的波長段;連接線的擺放位置盡量的遠離iPhone,根據(jù)我們的測試經(jīng)驗有可能一個小的折痕對于測試結(jié)果都將有很大的影響。
謝謝! 我的電源沒辦法遠離手機,如果我將外殼改為不接地,效果會不會有改善?
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zvszcs
LV.12
9
2011-07-21 20:14
@xwqpower
謝謝!我的電源沒辦法遠離手機,如果我將外殼改為不接地,效果會不會有改善?
厲害,不會帶電把
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sky-zhong
LV.4
10
2011-07-22 13:44
@mko145
請注意以下幾點:   - 整機的結(jié)構(gòu)出現(xiàn)問題:含有金屬部分的器件過于靠近iPhone,比如喇叭、鐵網(wǎng),PCB版的位置,散熱片的大小等等。如果這些器件對于測試結(jié)果影響很大,應(yīng)當去除或者遠離iPhone。    - PCB的接地的大小:地的大小對于測試指標的影響是顯著的,一般來說,地越大對于TRP/EIS的值影響也就越大。    - 連接線的長度及擺放位置的影響:iPhone與被測物相連后,很容易把連接線當成一根天線從而導(dǎo)致測試結(jié)果變差,所以要求盡量避免連接線的長度處于發(fā)射信號的波長段;連接線的擺放位置盡量的遠離iPhone,根據(jù)我們的測試經(jīng)驗有可能一個小的折痕對于測試結(jié)果都將有很大的影響。
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