AEC-Q100文件，是芯片開展車規(guī)等級驗證的重要標準和指導文件，本文將重點對G組的第3項CA - Constant Acceleration恒加速度項目進行介紹。

CA - Constant Acceleration 恒加速度

我們先看一下表格中內(nèi)容的含義。

表格中信息介紹和解讀

表格中的信息給出，CA的分類是G3，Notes中包含了H D G，也就是說要求密封器件、破壞性測試、承認通用數(shù)據(jù)。

需求的樣品數(shù)量是15pcs/Lot，來自1個批次。

接受標準是0失效；

參考文件是MIL-STD-883 Method2001

（編者注：MIL-STD-883是一個很復雜的標準文件，我參考的K版本多大765頁，其中Method2001代表其中的子文件編號。原文件對自身的介紹如下：

此標準為測試適用于軍事和航空航天電子系統(tǒng)的微電子器件制定了一致的測試方法、控制和流程，包括基本的環(huán)境測試，以確定在自然環(huán)境測試在產(chǎn)品對軍事和航天行為及相關條件的有害影響的抵抗力;機械和電氣試驗;工藝和培訓流程;以及被認為必要的其他控制和約束，以確保適合于此標準的產(chǎn)品可以達到預期應用的統(tǒng)一質(zhì)量和可靠性水平。就本標準而言，術語“器件”包括單片、多芯片、薄膜和混合微電路、微電路陣列以及構成電路和陣列的元件等項目。本標準僅適用于微電子器件。）

附加需求：

僅Y1平面，30k g-force為＜40只引腳的封裝，20k g-force為40引腳或以上的器件。

我們來看一下MIL-STD-883 Method2001這個文件。

MIL-STD-883 Method2001 CONSTANT ACCELERATION

1 目的

該測試用于確定恒定加速度對微電子器件的影響。這是一種加速試驗，旨在指出在沖擊和振動試驗中不一定檢測到的結構和機械缺陷類型。它可以用作高應力測試，以確定封裝、內(nèi)部金屬化和引線系統(tǒng)、Die或襯底附件以及微電子器件的其他元素的機械能力極限。通過建立適當?shù)膽λ剑部梢宰鳛橐环N在線的100%篩選來檢測和消除任何結構元素中低于額定機械強度的器件。

2 儀器

恒定加速度試驗應在能夠在規(guī)定時間內(nèi)施加規(guī)定加速度的裝置上進行。

3 流程

器件應被其外殼或正常的安裝夾具所約束，并固定引腳或連接線。

除非另有規(guī)定，在X1、X2、Y1、Y2、Z1和Z2的每個方向上，應對器件施加指定值的恒定加速度，至少持續(xù)1分鐘(見注釋1)。對于內(nèi)部元件安裝時主座平面垂直于Y軸的器件，Y1方向應定義為元件可以于從其安裝上移除的方向。除非另有規(guī)定，應適用試驗條件E。注:“壓力水平”是絕對的最小值，沒有可以降低的公差范圍。自旋半徑應從轉(zhuǎn)子的中心到元件附件的第一個點。見圖2001-1。

注1:雙腔器件可能需要多次旋轉(zhuǎn)，器件方向反轉(zhuǎn)以適當?shù)厥┘討Α?/span>

（編者注：AEC Q100中，要求是僅Y1平面，30k g-force為＜40只引腳的封裝，20k g-force為40引腳或以上的器件。也就是根據(jù)引腳數(shù)量不同，選擇D和E兩個標準即可。特別注意Y1方向是零件安裝的方向。）

4 總結

下列細節(jié)應在適用的接受文件中規(guī)定:

a.除測試條件E外，施加應力的加速度數(shù)值，單位為g(見3)。

b.應力后進行電性能測量的結果。

c.任何持續(xù)時間的變化或方向的限制原因(例如，僅Y1方向)(見3)。

d.實驗方向的順序，如果不是指定的(見3)。

圖2001-1 旋轉(zhuǎn)中心示意

其中：

g = 實驗產(chǎn)品的加速度

ω = 每分鐘轉(zhuǎn)數(shù)

r = 半徑（英尺單位）（從轉(zhuǎn)盤中心點到附加元件的第一個點）

本文對AEC-Q100 G組的第3項內(nèi)容CA - Constant Acceleration 恒加速度項目進行了介紹和解讀，希望對大家有所幫助。

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