前言

一個(gè)電路板在工作多年后，其上的100nF的電容容值經(jīng)測量為什么僅有80nF？為什么用烙鐵一燙，電容容值就恢復(fù)了？原因何在？今天就說說和MLCC陶瓷電容密切相關(guān)的一個(gè)名詞：老化。

老化是II類和III類MLCC的電容隨著時(shí)間的推移而減小的現(xiàn)象，它是由于所有II類電介質(zhì)（X7R、X5R和Y5V）中發(fā)生的晶體變化而導(dǎo)致電容隨著時(shí)間的推移而減小。所以我們在使用II類電介質(zhì)的電容時(shí)務(wù)必要小心，因?yàn)槠淙葜凳軠囟?，電壓，時(shí)間影響太大。

老化的機(jī)理

II類MLCC由鐵電材料制成，你可以想象一下，II類電容的電介質(zhì)材料內(nèi)部有很多電偶極子組成，這些電偶極子是有方向的，電容的容值會受到電偶極子排列方式的影響。而電偶極子排列方式又會受到時(shí)間、溫度、電壓的影響，從而會影響電容的介電常數(shù)。

對于X7R和X5R電容，時(shí)間對容值的影響是對數(shù)關(guān)系，X7R的電容時(shí)間每增大10倍，電容容值將會降低2.5%，而對于Y5V的電容，時(shí)間每增大10倍電容容值將降低7%。

電容的老化是和溫度息息相關(guān)的，BaTiO3有一個(gè)溫度點(diǎn)叫做居里溫度，這個(gè)溫度點(diǎn)是BaTiO3晶體特性發(fā)生轉(zhuǎn)變的臨界溫度，簡單點(diǎn)來說，低于居里溫度點(diǎn)，電容就會發(fā)生老化，從而電容器的電容會不斷減小。但是，如果將電容器加熱到高于居里溫度的溫度點(diǎn)，電容就會發(fā)生去老化，并且會恢復(fù)因老化而損失的電容。

總結(jié)

電容容值隨時(shí)間下降是對數(shù)關(guān)系，在對電容進(jìn)行去老化后，電容容值在去老化的前1000小時(shí)內(nèi)下降最為顯著。在此之后電容容值會比較穩(wěn)定，盡管如此，從產(chǎn)品可靠性的角度來看，目前產(chǎn)品的壽命一般都會超過1000小時(shí)，所以在進(jìn)行電容選型時(shí)，還是要仔細(xì)考量。

應(yīng)該注意的是，電容在貼裝在電路板上后存放的時(shí)間越長，電容容值就越低。這意味著在此時(shí)如果測量電容容值，電容容值可能會超出規(guī)定的公差。所以此時(shí)需要用烙鐵燙一下再去測量電容容值才更準(zhǔn)確哦。