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您的意思是芯片引腳本身對(duì)外輸出波形的，由于外面電池焊盤電壓變化太大，擾亂芯片內(nèi)部邏輯導(dǎo)致壞的？還是其他意思？

好的，謝謝。沒用電池測試，用產(chǎn)線測試治具，治具供電是用DC電源。芯片VOUT引腳是直接接到電池焊盤的，我用示波器夾過這個(gè)焊盤兩端測波形，沒抓到異常波形。

是個(gè)思路，測試時(shí)不帶電池的，DC電源供電7.4V給板子。程序跑飛、重啟的話我測試驗(yàn)證下。同時(shí)有疑問，哪怕兩個(gè)電機(jī)同時(shí)轉(zhuǎn)了，它供電的還是DC電源，怎么會(huì)影響到掛在板上的鋰電池充電管理IC呀？從芯片內(nèi)部圖看，就相當(dāng)于掛了兩個(gè)MOS在上面，負(fù)壓會(huì)不會(huì)擊穿MOS呢？

測試時(shí)不帶電池，是用DC電源供電，即DC電源通過測試治具頂針連接到板子的電池焊盤。

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