推動高能效創(chuàng)新的安森美半導體 (ON Semiconductor，美國納斯達克上市代號：ON)，推出了由該公司硅光電倍增管 (SiPM) 技術(shù)實現(xiàn)的單點直接飛行時間 (dToF) 的激光雷達方案。

光檢測和測距或激光雷達的應(yīng)用在所有領(lǐng)域都在增長，包括機器人和強制要求毫米范圍精度的工業(yè)接近感知。它通?；赿ToF方法，測量通常在近紅外 (NIR) 波長范圍內(nèi)的一個光脈沖往返于一個物體所需的時間。

盡管原理很簡單，但其應(yīng)用可能會帶來挑戰(zhàn)性，例如周圍太陽光較強等環(huán)境因素。為了準確確定范圍，接收器需要捕獲盡可能多的信號。就響應(yīng)時間和靈敏度而言，傳統(tǒng)的光電二極管在這方面會受到影響。安森美半導體開發(fā)的硅光電倍增管 (SiPM) 傳感器提供更快的響應(yīng)時間和高檢測效率，克服了這些不足。該參考平臺使用安森美半導體第二代SiPM 傳感器RB系列，在紅色和NIR范圍都帶來更高的性能。

安森美半導體開發(fā)的SiPM dToF激光雷達平臺提供低成本、單點激光雷達的完整方案，原始設(shè)備制造商 (OEM) 可靈活調(diào)整并投入生產(chǎn)，以創(chuàng)建工業(yè)測距應(yīng)用。它包括NIR激光二極管、SiPM傳感器和光學器件，以及將檢測到的信號轉(zhuǎn)換為經(jīng)過時間，以及將經(jīng)過時間轉(zhuǎn)換為距離所需的數(shù)字處理。

為加快客戶的上市時間，安森美半導體提供該參考平臺的所有設(shè)計數(shù)據(jù)，涵蓋原理圖、物料單 (BoM) 、gerber文件和PCB設(shè)計文件。客戶還可以訪問基于PC的圖形用戶接口(GUI)，提供隨時間變化的測量結(jié)果的圖形。生成的直方圖進一步證明該系統(tǒng)在測距、碰撞檢測和3D制圖等應(yīng)用的能力。

安森美半導體物聯(lián)網(wǎng)主管Wiren Perera說：“使用dToF激光雷達進行測距，滿足了許多應(yīng)用的關(guān)鍵需求，從自主導航到地圖繪制到監(jiān)控。但是，開發(fā)基于dToF激光雷達的系統(tǒng)可能具有挑戰(zhàn)性。我司的這個平臺顯然證實這領(lǐng)先技術(shù)的效用。有了經(jīng)驗證的設(shè)計，客戶就能更快地進行概念驗證，并迅速將產(chǎn)品推向市場。”

SiPM dToF激光雷達平臺可檢測10厘米至23米距離的物體。使用提供的GUI提供開箱即用的體驗，使工程師可以立即開始評估該技術(shù)。該設(shè)計已獲得美國食品和藥物管理局 (FDA) 一類認證，并符合IEC / EN 60825-1:2014和21 CFR 1040.10 / 1040.11激光安全標準。