尼得科精密檢測科技株式會社（以下簡稱“本公司”）將參展2025年5月6日（星期二）～５月８日（星期四）在德國紐倫堡市舉辦的“PCIM Expo & Conference 2025”。

本公司在本次展會上將展示從芯片（Chip）級到系統(tǒng)級面向功率器件的先端檢測系統(tǒng)。此外，還將現(xiàn)場實際演示有助于縮短研發(fā)周期的HILS（Hardware-In-the-Loop Simulation）平臺。

今后，本公司將繼續(xù)以行業(yè)先端的測量和檢測技術(shù)為全球制造業(yè)做出貢獻。

〈參展概要〉

· 展期：2025年5月6日(星期二)～5月8日(星期四)

· 展館：德國紐倫堡市 NürnbergMesse展覽中心

· 展位：4-432

· 官網(wǎng)：https://pcim.mesago.com/events/en.html

〈參展內(nèi)容〉

· 用于IGBT/SiC功率模塊的絕緣/靜態(tài)特性/動態(tài)特性檢測裝置“NATS-1000/1700系列”

· SiC模塊可靠性測試裝置“NATS-8000系列”

· 電機測試臺用逆變器&POWER HIL電機模擬器 “R-1100”

· 運用AI技術(shù)的xEV建模模擬器 “E-Transport Simulator®”

· AC/DC電容測量用多功能測試儀“R-700系列”

· 半導(dǎo)體器件穩(wěn)定測量探針“TC-Probe”

· 適用于高電壓的加壓結(jié)構(gòu)探針卡 “Chamber head Probe Card”

· 適用于高溫/高電流的探針 “3H+ Probe”