尼得科精密檢測科技將參展2025年6月4日(周三)～6月6日(周五)在東京國際展覽中心舉辦的“第54屆國際電子電路產業(yè)展覽會”。

在本次展會上，尼得科精密檢測科技將主要展示面向新一代封裝而備受矚目的、Glass Panel的TGV檢測解決方案以及在尼得科集團協(xié)同效應下新開發(fā)的自動搬運設備“EFEM(Equipment Front End Module)”。此外，我們還新增了符合市場趨勢的AI及LEO衛(wèi)星電路板的導通絕緣檢測設備“GATS-8360”?，F有的光學設備和電氣檢測設備也實現了高精度化。我們將提供一站式的符合市場需求的前沿檢測技術。歡迎您蒞臨本公司展位！

〈展會概要〉

· 展期：2025年6月4日（周三）～ 6月6日（周五）

· 地點：東京國際展覽中心 東展廳

· 展位：4號館 4G-06

· 官方網站：https://www.jpcashow.com/show2025/en/index.html

〈展出內容〉

· 面向TGV的高精度2D/3D檢測解決方案

· 適用于Equipment Front End Module全尺寸面板的自動搬運機cEFEM系列”

· 面向大型HDI的導通絕緣檢測裝置“GATS-8360”

· 面向HDI/PCB基板的高速step & repeat式導通/短路檢測設備“STAR REC M6V SW”

· 適用于高密度基板的2D/3D檢測設備 “RSH系列”

· AC/DC多功能測試儀 “R700系列”

· 適用于窄間距的探針 “NS探針”

· GBT/WBG功率模塊測試系統(tǒng) “NATS-1000系列”

· 功率半導體芯片/器件檢測系統(tǒng) “NATS系列”

· xEV電機測試臺“TDAS系列”（銷售/受托測試/租賃）

· xEV建模模擬器“E-Transport Simulator”

· xEV電機開發(fā)支持工具 變頻器、仿真器等