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請教下后羿專家,mofet的能量測試指標如何定義?

請教下后羿專家,mofet的能量測試指標如何定義?

實際使用選型中,這類指標需要如何選擇?

謝謝!

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2014-04-06 10:01

專家倒是不敢當,我個人覺得MOS管的選型要考慮有如下幾點:

1.VDS:對MOS管的耐壓要求的考慮是首要的,一般來說MOS管的耐壓要比實際最高工作電壓高10%以上;

2.ID:我們考慮的ID一般要最少按MOS管工作在100度結(jié)溫的ID選擇留有余量;在PWM電源,工作電流要按峰值電流計算,而不是平均電流;

3.開關(guān)參數(shù),驅(qū)動要求;

4.安全區(qū)域和熱阻的復核,一般來說符合了第2點這點比較容易通過;

5.效率要求:有時候我們選擇的MOS管在良好散熱的情況下完全可以滿足安全性和壽命的要求,但是可能達不到效率要求,比如金牌電源的效率要求,這個時候我們需要選用電流更高等級或開關(guān)參數(shù)更快的MOS管。

6.封裝散熱要求,有時候就算前5點都達到要求了,但是手體積和散熱條件的影響我們不得不選用損耗更小的MOS管。

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2014-04-06 20:54
@xzszrs
專家倒是不敢當,我個人覺得MOS管的選型要考慮有如下幾點:1.VDS:對MOS管的耐壓要求的考慮是首要的,一般來說MOS管的耐壓要比實際最高工作電壓高10%以上;2.ID:我們考慮的ID一般要最少按MOS管工作在100度結(jié)溫的ID選擇留有余量;在PWM電源,工作電流要按峰值電流計算,而不是平均電流;3.開關(guān)參數(shù),驅(qū)動要求;4.安全區(qū)域和熱阻的復核,一般來說符合了第2點這點比較容易通過;5.效率要求:有時候我們選擇的MOS管在良好散熱的情況下完全可以滿足安全性和壽命的要求,但是可能達不到效率要求,比如金牌電源的效率要求,這個時候我們需要選用電流更高等級或開關(guān)參數(shù)更快的MOS管。6.封裝散熱要求,有時候就算前5點都達到要求了,但是手體積和散熱條件的影響我們不得不選用損耗更小的MOS管。
你好第二點。要是假設(shè)一個電源峰值電流是3A那么MOS電流選擇多少?怎么計算?
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2014-04-07 10:57
@sunboy1396
你好第二點。要是假設(shè)一個電源峰值電流是3A那么MOS電流選擇多少?怎么計算?
一般來說,ID=10A的MOS管在100度時只有3.5A了,所以峰值電流3A的電源最少要選用ID=10A的MOS管。
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2014-04-07 12:31
@xzszrs
一般來說,ID=10A的MOS管在100度時只有3.5A了,所以峰值電流3A的電源最少要選用ID=10A的MOS管。

mosfet的RON,是溫度的正函數(shù),溫度100度時,RON會增大到常溫25度時的2倍,所以其ID選擇要算溫度余量。

所以更多的時候選擇mosfet,不是選擇它的IDmax,而是選擇其RON。

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2014-04-08 22:14
@紅色行者
mosfet的RON,是溫度的正函數(shù),溫度100度時,RON會增大到常溫25度時的2倍,所以其ID選擇要算溫度余量。所以更多的時候選擇mosfet,不是選擇它的IDmax,而是選擇其RON。
其實ID綜合了RON和熱阻。有時候就算RON很小,但ID也不大,因為熱阻太大。
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wangas176
LV.1
7
2014-04-10 09:48
@紅色行者
mosfet的RON,是溫度的正函數(shù),溫度100度時,RON會增大到常溫25度時的2倍,所以其ID選擇要算溫度余量。所以更多的時候選擇mosfet,不是選擇它的IDmax,而是選擇其RON。
個人認為,設(shè)計者不僅對ID 比較關(guān)注,同時對熱阻和雪崩耐量也比較關(guān)注,因為功率Mos熱設(shè)計優(yōu)劣和抗沖擊性的強弱,直接影響到成品的可靠性,附個圖大家參考。
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2014-04-14 10:10
@wangas176
個人認為,設(shè)計者不僅對ID比較關(guān)注,同時對熱阻和雪崩耐量也比較關(guān)注,因為功率Mos熱設(shè)計優(yōu)劣和抗沖擊性的強弱,直接影響到成品的可靠性,附個圖大家參考。
RDSON和EAS確實也是重要的兩個參數(shù),對于電機類感性負載會比較考慮EAS,對于低頻或直流負載會比較多考慮RDSON,對于高頻負載會比較多考慮開關(guān)參數(shù)。
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seedsz
LV.1
9
2014-04-14 13:36
@xzszrs
RDSON和EAS確實也是重要的兩個參數(shù),對于電機類感性負載會比較考慮EAS,對于低頻或直流負載會比較多考慮RDSON,對于高頻負載會比較多考慮開關(guān)參數(shù)。

原來都有相關(guān)性啊

 

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Sam_Xiner
LV.4
10
2014-05-23 09:58
@seedsz
原來都有相關(guān)性啊 

其實,看EAS更多的不是因為你帶了多少感性負載,而是回路中有多少雜散電感,這些雜散電感不參與正常的能量傳輸,而是在器件關(guān)斷的時候,強制對器件放電。對于某些應用,例如逆變,系統(tǒng)設(shè)計的夠好,某些安全特性參數(shù)再差的管子也是可以用的很好的;而如果方案設(shè)計的不好,例如開機大電流沖擊,要看的MOSFET參數(shù)就不是RDSON,也不是EAS,反而是SOA了。很多器件,尤其是國產(chǎn)器件,SOA都是拿熱阻和內(nèi)阻算出來的,他們根本就沒測試出來過,甚至也不懂怎么測試。對于器件的國產(chǎn)化,除了廠商要認真做,器件使用者也要像鐘工這樣的明白人??!

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2014-05-23 10:58
@Sam_Xiner
其實,看EAS更多的不是因為你帶了多少感性負載,而是回路中有多少雜散電感,這些雜散電感不參與正常的能量傳輸,而是在器件關(guān)斷的時候,強制對器件放電。對于某些應用,例如逆變,系統(tǒng)設(shè)計的夠好,某些安全特性參數(shù)再差的管子也是可以用的很好的;而如果方案設(shè)計的不好,例如開機大電流沖擊,要看的MOSFET參數(shù)就不是RDSON,也不是EAS,反而是SOA了。很多器件,尤其是國產(chǎn)器件,SOA都是拿熱阻和內(nèi)阻算出來的,他們根本就沒測試出來過,甚至也不懂怎么測試。對于器件的國產(chǎn)化,除了廠商要認真做,器件使用者也要像鐘工這樣的明白人??!

高手啊,確實如此。有很多時候管子明明保護了,在保護之前還是好的,可是保護之后卻壞了第二次都開不起機了。

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Sam_Xiner
LV.4
12
2014-05-23 11:17
@xzszrs
高手啊,確實如此。有很多時候管子明明保護了,在保護之前還是好的,可是保護之后卻壞了第二次都開不起機了。

我不是高手哈,略懂皮毛。用管子保護其實還是拿管子來扛一段時間的沖擊。沖擊過后,設(shè)計的不好的管子,內(nèi)傷的更厲害而已。這個扛沖擊的能力是和很多參數(shù)是矛盾統(tǒng)一的。有很多人喜歡用IR的老管子,IR的老管子長的結(jié)實跑的慢賣的貴,這都是系統(tǒng)設(shè)計不動腦筋不得不接受的妥協(xié)。

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singer2002
LV.7
13
2014-05-24 09:15

請教一個問題,MOS工作溫度高,工程師通常會在MOS-2個電極上并電容或電阻來處理改善MOS的工作狀態(tài),(MOS封裝造成的電容),可以針對MOS的改善阻值或容值同時給處理對應的電阻或電容嗎?

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2014-05-24 14:47
@singer2002
請教一個問題,MOS工作溫度高,工程師通常會在MOS-2個電極上并電容或電阻來處理改善MOS的工作狀態(tài),(MOS封裝造成的電容),可以針對MOS的改善阻值或容值同時給處理對應的電阻或電容嗎?

有時候會在GS并電容改變GS和GD電容的比值減小米勒振蕩,也會在DS加電容或RC吸收漏極尖峰。

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evilwater
LV.1
15
2015-09-10 10:15
@xzszrs
專家倒是不敢當,我個人覺得MOS管的選型要考慮有如下幾點:1.VDS:對MOS管的耐壓要求的考慮是首要的,一般來說MOS管的耐壓要比實際最高工作電壓高10%以上;2.ID:我們考慮的ID一般要最少按MOS管工作在100度結(jié)溫的ID選擇留有余量;在PWM電源,工作電流要按峰值電流計算,而不是平均電流;3.開關(guān)參數(shù),驅(qū)動要求;4.安全區(qū)域和熱阻的復核,一般來說符合了第2點這點比較容易通過;5.效率要求:有時候我們選擇的MOS管在良好散熱的情況下完全可以滿足安全性和壽命的要求,但是可能達不到效率要求,比如金牌電源的效率要求,這個時候我們需要選用電流更高等級或開關(guān)參數(shù)更快的MOS管。6.封裝散熱要求,有時候就算前5點都達到要求了,但是手體積和散熱條件的影響我們不得不選用損耗更小的MOS管。
一般在FT測試的時候會做100% EAS耐量測試, 這個100% EAS耐量條件用極限耐量的百分之多少的? 不同廠家好像設(shè)定不同,有20%~80%之間,多少比例是最合適的,而且不會對芯片有損傷?
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2015-09-10 20:36
@evilwater
一般在FT測試的時候會做100%EAS耐量測試,這個100%EAS耐量條件用極限耐量的百分之多少的?不同廠家好像設(shè)定不同,有20%~80%之間,多少比例是最合適的,而且不會對芯片有損傷?

一般50%以下。

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