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單節(jié)鋰電池保護(hù)IC(紘康HY2110) FAQ問(wèn)答集

HY2110



01. 鋰電池保護(hù)IC的OC和OD端子電壓變化情況?
     正常工作狀態(tài)下,OC、OD端子輸出高電壓.過(guò)充電保護(hù)及異常充電電流保護(hù)之後,OC端子輸出由高電壓變?yōu)榈碗妷?OD端子保持輸出高電壓.過(guò)放電保護(hù)、放電過(guò)流保護(hù)及負(fù)載短路保護(hù)之後,OC端子保持輸出高電壓,OD端子輸出由高電壓變?yōu)榈碗妷?


02. HY2110-AB進(jìn)入過(guò)充保護(hù)之後,如果仍然接著充電器,過(guò)充保護(hù)模式能否釋放?
     HY2110-AB進(jìn)入過(guò)充保護(hù)之後,如果仍然接著充電器,當(dāng)電芯電壓低於過(guò)充電釋放電壓 即(即VDD

03. IC進(jìn)入過(guò)放保護(hù)之後,當(dāng)電池電壓自恢復(fù)到過(guò)放釋放電壓(VDR)以上時(shí),能否釋放過(guò)放保護(hù)模式,繼續(xù)放電?
     不能,必須充電才能釋放過(guò)放保護(hù)模式.(進(jìn)入過(guò)放電保護(hù)狀態(tài)後,CS端子由IC內(nèi)部電阻上拉到VDD,IC會(huì)進(jìn)入一個(gè)休眠狀態(tài),此時(shí)耗電流在 0.1uA以下,將對(duì)電池的損耗降至最低.而休眠狀態(tài)必須充電才可以解除.)


04. 放電過(guò)流保護(hù)時(shí),迴路中的最大電流值如何計(jì)算?
     放電過(guò)流保護(hù)時(shí),迴路中最大電流值IDIP的計(jì)算公式:IDIP=VDIP/RON﹒
公式中IDIP是放電過(guò)流保護(hù)時(shí)回路中的最大電流值,VDIP是放電過(guò)流保護(hù)電壓,RON是M1和M2兩個(gè)MOSFET的導(dǎo)通內(nèi)阻之和.

以HY2110-AB為例,VDIP是150mV(typ.)假設(shè)RON=50mΩ,則IDIP=3A.


05. 異常充電電流保護(hù)時(shí),迴路中的最電流值如何計(jì)算?
     異常充電電流保護(hù)時(shí),迴路中最大電流值ICHA的計(jì)算公式:ICHA=︱VCHA︱/ RON﹒
公式中,ICHA是異常充電電流保護(hù)時(shí)迴路中最大電流值,VCHA是充電器檢測(cè)電壓,RON是 M1 和 M2 兩個(gè)MOSFET的導(dǎo)通內(nèi)阻之和.

以HY2110-AB為例,VCHA是-0.3V(typ.),假設(shè)RON=50mΩ,則ICIP=6A.


06. HY2110-AB進(jìn)入放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)或負(fù)載短路保護(hù)狀態(tài)的釋放條件?
     HY2110-AB進(jìn)入放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)或負(fù)載短路保護(hù)狀態(tài)之後,如果 PB+ 和 PB- 之間的阻抗大於1.4MΩ(typ),則放電過(guò)流保護(hù)狀態(tài)或負(fù)載短路保護(hù)狀態(tài)釋放.


07. DS端子用途為何?
     連接DS端子到VDD,可以降低IC的過(guò)充保護(hù)延時(shí)到10ms之內(nèi),用於生產(chǎn)測(cè)試時(shí)縮短測(cè)試時(shí)間.實(shí)際應(yīng)用的保護(hù)板線路中,請(qǐng)將DS懸空或接到VSS端子.


08. HY2110的工作溫度範(fàn)圍為何?
     HY2110的工作溫度範(fàn)圍為-40~85℃,IC在此範(fàn)圍內(nèi)工作正常.


09. 具有“允許向0V電池充電功能”的單節(jié)鋰電池保護(hù)IC,與具有“禁止向 0V電池充電功能” 的單節(jié)鋰電池保護(hù)IC,二者保護(hù)板使用的PCB是否通用?
     PCB通用,保護(hù)IC的外圍線路都是一樣的.


10. VDD端子外接的RC組件有何功能?是否會(huì)影響各保護(hù)功能的延遲時(shí)間?
     R1有限流、加強(qiáng)ESD防護(hù)的功能,C1有穩(wěn)定VDD電壓的功能.不會(huì)影響各保護(hù)功能的延遲時(shí)間.


11. HY2110外接的R1,選擇範(fàn)圍為何?
     R1建議在100~1kΩ之間,R1太小,如果不小心將電池反接到保護(hù)板上,流過(guò)R1和VDD、VSS端子的電流高達(dá)幾十毫安,可能會(huì)超過(guò)保護(hù)IC或R1 的功率範(fàn)圍,也不利於ESD防護(hù).R1太大,會(huì)提高過(guò)充電檢測(cè)電壓和過(guò)放電檢測(cè)電壓的值.


12. HY2110外接的R2電阻,選擇範(fàn)圍為何?
     R2電阻在300Ω~2kΩ之間,如果連接過(guò)大電阻,當(dāng)異常大電流充電時(shí)可能導(dǎo)致不能切斷充電迴路.


13. 用泰斯PTS-2008鋰電池保護(hù)板測(cè)試儀,精確測(cè)試模式下測(cè)試 HY2110-AB的過(guò)充電釋放電壓(VCR)超標(biāo),為什麼?
     HY2110-AB過(guò)充保護(hù)後的釋放條件有2個(gè):當(dāng)不連接負(fù)載時(shí),電池自放電到VDD
詳見(jiàn)泰斯電子有限公司網(wǎng)站上的介紹,文件名稱是《泰斯PTS-2008測(cè)試過(guò)充恢復(fù)及過(guò)放恢復(fù)異常的問(wèn)題》.測(cè)試時(shí)可以考慮屏蔽此項(xiàng).


14. 用泰斯PTS-2008鋰電池保護(hù)板測(cè)試儀,精確測(cè)試模式下測(cè)試 HY2110-AB的過(guò)放電釋放電壓時(shí),不顯示具體數(shù)值而顯示“ charge ”,什麼意思?
     泰斯PTS-2008鋰電池保護(hù)板測(cè)試儀對(duì)過(guò)放恢復(fù)電壓的測(cè)試原理和方法,不能對(duì)“過(guò)放需要連接充電器充電才可以恢復(fù)” 的保護(hù)IC,進(jìn)行正確的測(cè)試.

詳見(jiàn)泰斯電子有限公司網(wǎng)站上的介紹,文件名稱是《泰斯PTS-2008測(cè)試過(guò)充恢復(fù)及過(guò)恢復(fù)異常的問(wèn)題》.測(cè)試時(shí)可以考慮屏蔽此項(xiàng).


15. 長(zhǎng)信鋰電池保護(hù)板測(cè)試儀,測(cè)試保護(hù)IC時(shí)的注意事項(xiàng).
     注意將過(guò)充保護(hù)延時(shí)參數(shù)設(shè)置成保護(hù)IC規(guī)格書(shū)中的最大值.並將儀器的誤差考慮進(jìn)去.

1405561211512835.pdf
1405561211512866.pdf





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MZTKJ
LV.1
2
2012-05-14 10:41

HY2110-CB 參數(shù)
過(guò)充電檢測(cè)電壓 4.28±0.05V
過(guò)充電釋放電壓 4.08±0.05V
過(guò)放電檢測(cè)電壓 2.4±0.1V
過(guò)放電釋放電壓 3.0±0.1V
放電過(guò)流檢測(cè)電壓 150±30mV
向0V電池充電功能 允許

內(nèi)建高精度電壓偵測(cè)與延時(shí)電路
  低耗電流:
        工作模式<6μA (VDD=3.9V)
        休眠模式<0.1μA (VDD=2.0V)
連接充電器的端子採(cǎi)用高耐壓設(shè)計(jì)(CS和OC端子絕對(duì)最大額定值為20V)
0V 電池充電功能: 可選擇“允許”或“禁止”
小型封裝: SOT-23-6 或 DFN 可選擇
寬工作溫度範(fàn)圍: -40℃ to +85℃
所有產(chǎn)品皆採(cǎi)用無(wú)鹵素綠色環(huán)保封裝
產(chǎn)品品質(zhì)可達(dá)客戶產(chǎn)線不良率在100ppm以下 
 
應(yīng)用類別:  
  1節(jié)鋰離子可再充電電池組
  1節(jié)鋰聚合物可再充電電池組
  1節(jié)磷酸鐵鋰可再充電電池組

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