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導(dǎo)讀：

隨著移動終端出貨量的快速擴(kuò)張，其中的射頻功率器件市場不斷更新布局，提高PA效率和線性度的需求推動了新測量技術(shù)的出現(xiàn)，也使得PA特征化的復(fù)雜度日益提高。

在這個研討會中，我們將介紹現(xiàn)代蜂窩手機(jī)功率放大器的三個重要測試需求和挑戰(zhàn)，包括：數(shù)字預(yù)算失真(DPD)、包絡(luò)跟蹤特性化(ET)和負(fù)載牽引(Load pull)。DPD可在輸出功率較高時有效線性化功率放大器(PA)，并增大PA滿足特定標(biāo)準(zhǔn)傳輸需求的可能性，以提高調(diào)制質(zhì)量和頻譜純度。包絡(luò)跟蹤的目的是通過動態(tài)改變功放的效率曲線來提高高PAPR波形的效率。最后，負(fù)載牽引可幫助工程師通過找到功率晶體管的最優(yōu)輸入和輸出阻抗來提高功放的整體效率。

Topics:

NI射頻集成電路測試技術(shù)及應(yīng)用概覽

PA工程師必須了解的三種技術(shù)—數(shù)字預(yù)失真，包絡(luò)跟蹤以及負(fù)載牽引

NI全新矢量信號收發(fā)儀(VST 2.0)技術(shù)及應(yīng)用揭秘

客戶案例分析

應(yīng)用演示：

DPD on 802.11ac

802.11ax Loopback

LTE WLAN Co-existence?

FPGA Mod/Demod Example

Real-time spectrum monitoring

★  演講嘉賓：

Brian Glass, Senior Product Marketing Manager for RFIC

Yi Han, DSM

Fangze Tu, Senior Application Engineer

★  活動主辦方：美國國家儀器

美國國家儀器，世界上最大領(lǐng)先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件，如LabVIEW，AWR，以及高性價比的模塊化硬件，覆蓋IC從研發(fā)到量產(chǎn)的全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。40多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設(shè)計(jì)領(lǐng)域的工程師與科學(xué)家解決了從設(shè)計(jì)、原型到發(fā)布過程中所遇到的種種挑戰(zhàn)，提供大量的軟件，硬件，覆蓋IC全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。在縮短產(chǎn)品問世時間的同時有效降低開發(fā)成本。如今，NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應(yīng)用選擇，在RF芯片設(shè)計(jì)和測試方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)知識。

時間地點(diǎn)

【時間】：2016年8月29日，13:30--17:00

【地點(diǎn)】：上海浦東新區(qū)碧波路635號傳奇廣場3樓IC咖啡，近地鐵2號線張江高科站5號口（祖沖之路松濤路）

【路線】：地鐵2號線5號口出，穿過“黑暗料理小吃”，傳奇廣場坐電梯到3樓即達(dá)（交通銀行和中國銀行之間）；自駕，松濤路路口進(jìn)，1樓三和面館旁電梯上

【費(fèi)用】：免費(fèi)

【報名】：點(diǎn)擊下方"閱讀原文"即可參與報名。

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