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07.26 無錫丨美國國家儀器NI：沒有好測試，再牛的芯片也上不了市！

        無錫新吳區(qū)菱湖大道200號中國傳感網(wǎng)國際創(chuàng)新園F11棟創(chuàng)星咖啡(景賢路)

主辦方： 美國國家儀器

引言：

測試是IC設(shè)計(jì)的重要環(huán)節(jié)，精確的測試結(jié)果，快速的Debug方法，直接決定了芯片Time-To-Market的效率。IC咖啡攜手美國國家儀器National Instruments準(zhǔn)備了一系列芯片測試的新玩法，帶你玩轉(zhuǎn)IC測試。

Digital IC、Analog IC、RF IC， 各位IC designer奮斗在設(shè)計(jì)一線，不斷的設(shè)計(jì)出速度更快、功耗更低、面積更小的芯片。 每一次流片回來，高強(qiáng)度的測試任務(wù)，對于測試工程師及IC設(shè)計(jì)師來講，都是最為心情跌宕起伏的時刻：仿真很“豐滿”，測試很“骨感”。

1.平臺化方法降低IC測試成本及上市時間：

隨著IC集成度日益提高，行業(yè)整合和全球競爭的加劇，IC工程師面臨著巨大的開發(fā)成本和上市時間的壓力。 不幸的是，實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)測試中的ATE系統(tǒng)使用傳統(tǒng)儀器的方法不能進(jìn)行擴(kuò)展?jié)M足到當(dāng)今IC產(chǎn)業(yè)不斷變化的需求，在成本和上市時間上帶來商業(yè)風(fēng)險。 在本演講中，我們將介紹基于平臺的方法是如何提升IC驗(yàn)證分析速度和測試設(shè)備性能，滿足制造成本和可靠性的需求。

2.從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)——NI RFIC測試方案：

在此演講中，將探討基于PXI平臺和矢量信號收發(fā)儀VST，您可以輕松應(yīng)對當(dāng)前復(fù)雜且技術(shù)更新很快的RFIC測試，以及NI平臺如何打通從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測試的RFIC測試方案。

3.解讀構(gòu)建SLT(System Level Test)的新軟件架構(gòu)：

隨著IC集成度的巨大提升，SiP等的封裝形式的出現(xiàn)也讓測試變得越來越困難。在本演講中，我們講討論SLT測試的趨勢和方法，并且如何用平臺化方法構(gòu)建SLT測試系統(tǒng)。

4.降低測試成本新方法——物聯(lián)網(wǎng)藍(lán)牙芯片產(chǎn)測解決之道：

在物聯(lián)網(wǎng)時代，無線網(wǎng)絡(luò)的要求不斷推進(jìn)無線標(biāo)準(zhǔn)的發(fā)展。事實(shí)上，低延遲、低功耗、高可靠性的技術(shù)要求最終推動了未來無線技術(shù)的發(fā)展方向。在本演講中，我們將探討最新興的無線技術(shù)對IoT，移動和基礎(chǔ)設(shè)施的設(shè)計(jì)和測試的影響，并且以低功耗藍(lán)牙芯片量產(chǎn)測試為例，討論針對應(yīng)用于物聯(lián)網(wǎng)芯片如何在量產(chǎn)測試中降低測試成本。

*議題根據(jù)地區(qū)調(diào)整

內(nèi)容資源：

NI的平臺化方法下，最大化利用統(tǒng)一的平臺提升實(shí)驗(yàn)室和量產(chǎn)測試的數(shù)據(jù)關(guān)聯(lián)，打通從實(shí)驗(yàn)室到量產(chǎn)測試的鴻溝！降低測試成本，加快上市時間，將不再是難題！

在統(tǒng)一的平臺下，NI模塊化的儀器和開放靈活的軟件是一切的基石，極廣的信號覆蓋（從DC到毫米波），頂級的射頻及混合信號儀器，天然的并行測試特性，這樣的高性能平臺已經(jīng)為全球范圍內(nèi)多家客戶帶來了福祉。

而NI為量產(chǎn)測試而打造的STS（半導(dǎo)體測試系統(tǒng)），對接行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)，為量產(chǎn)測試添磚加瓦提升測試速度！

-芯片設(shè)計(jì)工程師及部門主管

-芯片測試工程師及部門主管

-Verification 及 Qualification 部門工程師

-其他IC業(yè)內(nèi)人士

歡迎您的到來！

活動主辦方：美國國家儀器

美國國家儀器，世界上最大領(lǐng)先的硬件電子測試測量儀器公司。提供豐富的工具軟件，如LabVIEW，AWR，以及高性價比的模塊化硬件，覆蓋IC從研發(fā)到量產(chǎn)的全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。40多年來，美國國家儀器公司(NI)幫助測試、控制、設(shè)計(jì)領(lǐng)域的工程師與科學(xué)家解決了從設(shè)計(jì)、原型到發(fā)布過程中所遇到的種種挑戰(zhàn)，提供大量的軟件，硬件，覆蓋IC全產(chǎn)業(yè)鏈測試與仿真需求。在縮短產(chǎn)品問世時間的同時有效降低開發(fā)成本。如今，NI為遍布全球各地的35,000家不同的客戶提供多種應(yīng)用選擇，在RF芯片設(shè)計(jì)和測試方面具有豐富的經(jīng)驗(yàn)和專業(yè)知識。