電子產(chǎn)品在芯片性能分、產(chǎn)品研發(fā)、性能測試,以及工藝分析時,熱分析是必不可少的環(huán)節(jié),紅外熱像儀是如何幫助工程師解決類似棘手問題。本次研討會為您帶來福祿克在線熱像儀的干貨分享:產(chǎn)品性能測試、研究、開發(fā)方案;生產(chǎn)及品質(zhì)監(jiān)控過程中溫度場測試;助您提高產(chǎn)品質(zhì)量,降低人工成本,完善工藝流程。準(zhǔn)備好了嗎?精彩不容錯過,敬請期待!
嘉賓介紹
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余廣友
演講嘉賓
職稱:熱像儀產(chǎn)品經(jīng)理
簡介:從業(yè)紅外熱像儀市場近15年,對紅外熱像的市場動向、技術(shù)解析以..
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Fluke技術(shù)人員
答疑嘉賓
職稱:工程師
簡介:福祿克技術(shù)人員