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講一講芯片的發(fā)熱、溫升、熱阻等概念

硬件的小伙伴應(yīng)該都有“燒設(shè)備”的經(jīng)歷,芯片摸上去溫溫的,有的甚至燙手。

有些芯片在正常工作時,功耗很大,溫度也很高,需要涂散熱材料。

本文主要討論芯片的散熱/發(fā)熱、熱阻、溫升、熱設(shè)計等概念。

開蓋后的酷睿i9-9900K上的硅脂散熱材料

▉ 芯片發(fā)熱和損耗

芯片的功率損耗,一方面指的是有效輸入功率和輸出功率的差值,稱之為耗散功率,這部分損耗會轉(zhuǎn)化成熱量釋放,發(fā)熱并不是一個好東西,會降低部件和設(shè)備的可靠性,嚴重會損壞芯片。

耗散功率,英文為Power Dissipation,某些芯片的SPEC里面會有這個參數(shù),指最大允許耗散功率,耗散功率和熱量是相對應(yīng)的,可允許耗散功率越大,相應(yīng)的結(jié)溫也會越大。

另一方面,芯片功耗指的是電器設(shè)備在單位時間中所消耗的能源的數(shù)量,單位為W,比如空調(diào)2000W等等。

▉ 熱阻和溫升

我們都知道一句話:下雪不冷化雪冷,這是一個物理過程,下雪是一個凝華放熱過程,化雪是一個融化吸熱過程。

芯片的溫升是相對于環(huán)境溫度(25℃)來說的,所以不得不提熱阻的概念。

熱阻,英文Thermal Resistance,指的是當(dāng)有熱量在物體上傳輸時,在物體兩端溫度差與熱源的功率之間的比值,單位是℃/W或者是K/W。

如下圖所示,將一個芯片焊接在PCB板上,芯片的散熱途徑主要有如下三種,對應(yīng)三種熱阻。

1、芯片內(nèi)部到外殼和引腳的熱阻——芯片固定的,無法改變。

2、芯片引腳到PCB板的熱阻——良好的焊接和PCB板決定。

3、芯片外殼到空氣的熱阻——由散熱器和芯片外圍空間決定。

半導(dǎo)體芯片熱阻參數(shù)示意

Ta為環(huán)境溫度,Tc為外殼表面溫度,Tj為結(jié)溫。

Θja:結(jié)溫(Tj)與環(huán)境溫度(Ta)之間的熱阻。

Θjc:結(jié)溫(Tj)與外殼表面溫度(Tc)之間的熱阻。

Θca:外殼表面溫度(Tc)與環(huán)境溫度(Ta)之間的熱阻。

熱阻的計算公式為:

Θja =(Tj-Ta)/Pd →Tj=Ta+Θja*Pd

其中Θja*Pd為溫升,也可以稱之為發(fā)熱量。

1、在熱阻一定的情況下,功耗Pd越小,溫度越低。

2、在功耗一定的情況下,熱阻越小越好,熱阻越小代表散熱越好。

▉ 結(jié)溫計算誤區(qū)

很多人計算結(jié)溫用這個公式:Tj=Ta+Θja*Pd,在TI的文檔中有說明,其實并不準(zhǔn)確,在公眾號后臺回復(fù)關(guān)鍵詞溫升,可獲取此文檔。

大致意思就是Θja是一個多變量函數(shù),不能反應(yīng)芯片焊接在PCB板上的真實情況,和PCB的設(shè)計、Chip/Pad的大小有強相關(guān)性,隨著這些因素的改變,Θja值也會改變,芯片廠家在測試Θja時和我們實際使用情況有較大差別,所以用來計算結(jié)溫,誤差會很大。

熱阻Θja和這些參數(shù)有強相關(guān)性

同時使用Tj=Tc+Θjc*Pd這個公式,用紅外攝像機測量出芯片外殼溫度Tc,然后算出Tj也是不太準(zhǔn)確的。

廠家給出Θja和Θjc可能更多是讓我們評估芯片的熱性能如何,用于和其他芯片比較。

在某些芯片的參數(shù)中,會有ΨJTΨJB,這兩個參數(shù)不是真正的熱阻,芯片廠家在測試ΨJT和ΨJB的方法非常接近實際器件的應(yīng)用環(huán)境,所以可以用它來估算結(jié)溫,也被業(yè)界所采用,而且可以看出,這兩個參數(shù)是要比Θja和Θjc要小的,所以在同樣的功耗下,用Θja計算得出的結(jié)溫是比實際的溫度要偏大的。

ΨJT,指的是Junction to Top of Package,結(jié)到封裝外殼的參數(shù),計算公式為Tj=Tc+ΨJT*Pd,Tc為芯片外殼溫度。

ΨJB,指的是Junction to Board,結(jié)到PCB板的參數(shù),計算公式為:Tj=Tb+ΨJB*Pd,Tb為PCB板的溫度。

ΨJT和ΨJB可被用來計算結(jié)溫

▉ 熱設(shè)計

熱設(shè)計和EMC問題一樣,最好在前期就解決掉,不然后期整改很麻煩。設(shè)計前期考慮結(jié)構(gòu)、PCB堆疊、布局、擺件等,后期考慮散熱材料等方式。

今天的文章到這里就結(jié)束了,希望對你有幫助,我們下一期見。

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