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工程師說(shuō)硬件
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信號(hào)完整性基礎(chǔ)--傳輸線(一)
信號(hào)完整性基礎(chǔ)--傳輸線(二)
信號(hào)完整性基礎(chǔ)--反射(一)
信號(hào)完整性基礎(chǔ)--反射(二)
信號(hào)完整性基礎(chǔ)--串?dāng)_(一)
信號(hào)完整性基礎(chǔ)--串?dāng)_(二)
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信號(hào)完整性基礎(chǔ)--傳輸線(二)

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今天的我們繼續(xù)第一章節(jié)傳輸線相關(guān)知識(shí)的講解。

01 阻抗

(1)傳輸線等效模型:均勻傳輸線可以等效為一段段集總元件RLGC的組合。因?yàn)镽和G可以忽略,最終可以簡(jiǎn)化為一段段LC電路,如圖1所示。

圖1 傳輸線等效模型

(2)特性阻抗信號(hào)在傳輸過(guò)程中每達(dá)到一個(gè)點(diǎn),該處信號(hào)線和參考平面就會(huì)形成電場(chǎng),進(jìn)而產(chǎn)生瞬間的小電流,這樣在信號(hào)傳輸?shù)倪^(guò)程中,傳輸線的每一點(diǎn)都會(huì)等效成一個(gè)電阻,這就是傳輸線的特性阻抗。

簡(jiǎn)化公式:Z≈√(????/????)

(3)阻抗在實(shí)際應(yīng)用中最直接的影響就是反射。阻抗連續(xù)則信號(hào)質(zhì)量較好,阻抗不連續(xù)則會(huì)造成信號(hào)反射,帶來(lái)振蕩等一系列信號(hào)質(zhì)量問(wèn)題,如圖3、4 阻抗不匹配造成反射問(wèn)題仿真。

圖2、3 ADS仿真:阻抗不匹配造成信號(hào)反射

(4)實(shí)際工程中,IC出線區(qū)、過(guò)孔等都會(huì)造成阻抗不連續(xù)。但阻抗不連續(xù)造成的反射對(duì)信號(hào)的影響并非全部不可接受,主要取決于不連續(xù)區(qū)域的走線長(zhǎng)度和信號(hào)頻率。一般,不連續(xù)區(qū)域的傳輸延時(shí)小于0.2倍的上升時(shí)間,則阻抗不連續(xù)造成的影響較?。ê透咚傩盘?hào)定義類似)。如圖5、6不同長(zhǎng)度阻抗不連續(xù)走線造成的反射影響的仿真。

圖4、5 ADS仿真:不同長(zhǎng)度阻抗不連續(xù)走線造成的反射影響

02 損耗

(1)理想傳輸線并不存在,所有信號(hào)在傳輸過(guò)程中都會(huì)存在損耗。

常見傳輸線損耗有:導(dǎo)體損耗介質(zhì)損耗,低頻下?lián)p耗主要為導(dǎo)體損耗,高頻主要為介質(zhì)損耗。

(2)導(dǎo)體損耗:通常表現(xiàn)在趨膚效應(yīng)和表面粗糙度帶來(lái)的阻性損耗。

a、可以使用反轉(zhuǎn)銅和壓延銅來(lái)降低表面粗糙度。

b、趨膚效應(yīng):隨著頻率的提高,交變電流集中在導(dǎo)體表面;而臨近效應(yīng)會(huì)進(jìn)一步惡化趨膚效應(yīng)帶來(lái)的影響。

圖6 銅表面粗糙度

圖7 銅材質(zhì)下不同頻率的趨膚深度

(3)介質(zhì)損耗:通常表現(xiàn)在漏電流偶極子重取向帶來(lái)的損耗。

a、漏電流:非理想電介質(zhì)的帶電粒子運(yùn)動(dòng)產(chǎn)生的電流;

b、偶極子重取向:在電場(chǎng)作用下,偶極子將沿著電場(chǎng)方向重排列,運(yùn)動(dòng)的過(guò)程中就像短暫的電流流過(guò)介質(zhì)(也可以理解為克服分子熱運(yùn)動(dòng)做功),因此造成損耗;

c、損耗角正切(Df):FR4板材通常為0.022,高頻板材可以降低一個(gè)數(shù)量級(jí)。

圖8 偶極子重取向示意圖

(4)介質(zhì)損耗更容易損耗掉高頻分量的能量。可以采用均衡與預(yù)加重來(lái)補(bǔ)償信號(hào)損失。傳輸路徑越長(zhǎng),損耗越嚴(yán)重。如下圖所示。

圖9、10 ADS仿真:不同板材和走線長(zhǎng)度的損耗對(duì)比

(5)微帶線與帶狀線的損耗對(duì)比:理論上微帶線由于一側(cè)為空氣,一側(cè)介質(zhì),因此部分磁場(chǎng)分散在空氣中,能帶來(lái)更小的損耗與更快的傳播速度。但由于實(shí)際中,PCB生產(chǎn)時(shí)微帶線會(huì)覆蓋綠油,而綠油的損耗比介質(zhì)更大,因此在使用高速板材的情況下,微帶線的損耗反而大于帶狀線。

圖11、12 ADS仿真:不同板材,有無(wú)綠油情況下微帶線和帶狀線的損耗

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