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MOS管米勒效應(yīng)的罪魁禍?zhǔn)?-Cgd
MOS管米勒效應(yīng)的仿真
關(guān)于MOS管的米勒效應(yīng)的疑問(wèn)--求實(shí)錘
MOS管的應(yīng)用--AB間電阻是多少?
MOS管的米勒效應(yīng)--阻性負(fù)載
運(yùn)放是否需要專門的接地端子?
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MOS管的米勒效應(yīng)--阻性負(fù)載
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MOS管的米勒效應(yīng)--阻性負(fù)載

關(guān)于MOS管的米勒效應(yīng),前面已經(jīng)發(fā)了3篇:(點(diǎn)擊標(biāo)題可訪問(wèn))

MOS管米勒效應(yīng)的罪魁禍?zhǔn)?-Cgd

MOS管米勒效應(yīng)的仿真

關(guān)于MOS管的米勒效應(yīng)的疑問(wèn)--求實(shí)錘

其中在《關(guān)于MOS管的米勒效應(yīng)的疑問(wèn)--求實(shí)錘》文章中提到,在進(jìn)行米勒效應(yīng)仿真時(shí),發(fā)現(xiàn)在米勒平臺(tái)期間漏極電流Id持續(xù)上升的問(wèn)題,和米勒平臺(tái)的理論有些沖突。針對(duì)該問(wèn)題,還開(kāi)展了答題送書(shū)的活動(dòng)。之前說(shuō)“讓子彈飛一會(huì)兒”,現(xiàn)在子彈該命中目標(biāo)了。?下面我們重點(diǎn)討論下這個(gè)問(wèn)題。

1、一道問(wèn)題

首先,我們重溫下前面遇到的問(wèn)題:如下圖搭建仿真模型,仿真發(fā)現(xiàn):Id在米勒平臺(tái)期間仍在上升。在米勒平臺(tái)結(jié)束時(shí),漏極電流才達(dá)到最大值。另外在B站上找了老外的實(shí)測(cè)波形,與仿真結(jié)果一致。更換仿真軟件,仿真結(jié)果也一致。但這與米勒效應(yīng)的理論沖突。

①仿真模型:

②仿真結(jié)果

 

③米勒平臺(tái)的理論波形(上面波形與此矛盾)

2、回答前文中的問(wèn)題

所以在《關(guān)于MOS管的米勒效應(yīng)的疑問(wèn)--求實(shí)錘》(點(diǎn)擊標(biāo)題可直接訪問(wèn))文章中提到的問(wèn)題:如果MOS管處于米勒平臺(tái)的區(qū)間內(nèi),MOS管工作在哪個(gè)區(qū)?

A:恒流區(qū);

B:可變變阻區(qū);

C:部分在恒流區(qū),部分在可變電阻區(qū);

D:截止區(qū);

MOS管處在米勒平臺(tái)期間,此時(shí)Vgs>Vth,Vds>Vgs-Vth。進(jìn)一步講,Vgd=Vgs-Vds<Vth,MOS管處于預(yù)夾斷狀態(tài),注意此時(shí)導(dǎo)電溝道并沒(méi)有被真的夾斷,只是夾斷縫隙變長(zhǎng),依然有電流Id存在。Vds增加的部分主要用于克服溝道的電阻,Id幾乎不變。此時(shí)Id幾乎僅僅取決于Vgs。

很明顯,這道題的答案應(yīng)該選擇A,MOS管處于飽和區(qū)(恒流區(qū))。在米勒平臺(tái)期間,Vgs不變,相應(yīng)Id也應(yīng)該保持不變。所以,上面仿真出的結(jié)果與上述理論存在明顯沖突。

難道,仿真有問(wèn)題?

3、仿真有問(wèn)題?

結(jié)論:仿真是沒(méi)有問(wèn)題的。

那問(wèn)題出在哪里?

問(wèn)題出在負(fù)載上。在此仿真電路模型中所使用的負(fù)載為阻性負(fù)載。

阻性負(fù)載有什么特點(diǎn)?電壓和電流是同時(shí)變化的。在開(kāi)關(guān)過(guò)程中,阻性負(fù)載兩端不存在電流和電壓變化的先后關(guān)系,是同相位變化的。

Id在平臺(tái)期上升,可以用歐姆定律來(lái)解析,因?yàn)樵诿桌掌脚_(tái)期間Vds在下降,Id=(Vdd-Vds)/Rload。而Vds下降是因?yàn)镸OS在米勒平臺(tái)期間在處于飽和狀態(tài),內(nèi)部導(dǎo)電溝道狀態(tài)在變化,進(jìn)而使得MOS管的導(dǎo)通阻抗在變化。

怎么樣?一個(gè)簡(jiǎn)短的問(wèn)題,給出的回答可淺可深。我的助攻只能到這里,能否晉升到陸地神仙境,一劍開(kāi)天門,就看你的造化了!

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  • macie_jay 2023-05-31 09:48
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